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  • 苹果logo形貌测量

    测量要求
    扫描手机壳上苹果logo的三维形貌,提取profile测量不同位置的段差

     

    主要特点概览

    1.非接触式测量,一体化设计

    2.三维形貌扫描,多功能数据处理

    3.适用于各种材料的精确测量

    4.使用简单,装拆方便

    5.扫描速度快,定位精度高

    6.±0.5到±1μm重复精度保证

    7.稳定性高,抗干扰能力强

     

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    测量结果
    不同位置段差不同,基本在0到15μm之间

     

    解决现阶段测量装置存在的问题

    1.磨损量小,测定困难

    2.对材料有一定要求接触式测量,对测量材料有损

    3.坏磨损位置不确定,测量速度慢精度低,测量误差大

     

    4.结构复杂,成本高

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全部分类
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